기존의 ideal 상황을 바탕으로 했던 가정들이 깨짐..
가정 1 : 반도체와 metal의 work function이 같다
가정 2 : oxide 내부에는 charge가 constant하다
결국 그래서 VT가 달라지게 된다..
가정 1.
∵ vaccum level이 semiconductor가 더 높아서.
built-in potential이 다음과 같이 되는 것을 고려하면,
아래와 같이 식(18.3)을 정리할 수 있다.
여도, metal의 bias를 VG, 반도체를 ground걸고 VG를 negative 걸어서 metal영역을 올려준다. 그래서 semiconductor를 flat band로 만듬
: C-V curve가 얼마나 shift할 건가? High frequency C-V 특성에서 보면..
work function의 차이만큼 가해줘야 flat하게 된다.
그러므로, 결국 VT가 바뀐다.
=> on/off 특성 달라진다.
가정 2.
oxide의 charge는 어떻게 되는가?
- fixed charge(ND, NA)
- mobile ion charge
- interface trapped charge
그래서 결국, 아래와 같은 식으로 정리된다.
ideal 일때의 식이 다음과 같이 정리되니,
결국 아래와 같이 표현할 수 있다.
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